| 全部作者 | 孙郁兴 |
|---|---|
| 论文名称 | 利用受挫式内部全反射法和Kretschmann 组态研究银薄膜厚度对三聚氰胺(C3H6N6)之表面电浆波共振角影响 |
| 研讨会名称 | Proc. of the 2014 Conference on Computer Vision, Image Processing and Information Technology, |
| 举行地点 | 中华民国桃园县中坜市 |
| 会议开始时间 | 2014-06-06 |
| 会议结束时间 | 2014-06-06 |
| 作者顺序 | 第二作者 |
| 全部作者 | 孙郁兴 |
|---|---|
| 论文名称 | 利用受挫式内部全反射法和Kretschmann 组态研究银薄膜厚度对三聚氰胺(C3H6N6)之表面电浆波共振角影响 |
| 研讨会名称 | Proc. of the 2014 Conference on Computer Vision, Image Processing and Information Technology, |
| 举行地点 | 中华民国桃园县中坜市 |
| 会议开始时间 | 2014-06-06 |
| 会议结束时间 | 2014-06-06 |
| 作者顺序 | 第二作者 |
| 健行科技大学 Chien Hsin University of Science and Technology, No.229, Jianxing Rd., Zhongli Dist., Taoyuan City 320312, Taiwan(R.O.C.) 桃园市中坜区健行路229号 电话：03-4581196 健行科技大学 电子工程系 电资学院 7 楼 D729 室 分机5101 建议使用 1024*768 分辨率已达本站最佳浏览效果 意见反映信箱：etdept@uch.edu.tw |
 
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