| 全部作者 | 黃至堯 |
|---|---|
| 論文名稱 | A High Latchup - Immune ESD Protection SCR- Incorporated BJT in Deep Submicron Technology |
| 研討會名稱 | 20th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits |
| 舉行地點 | 大陸地區江蘇省蘇州 |
| 會議開始時間 | 2013-07-17 |
| 會議結束時間 | 2013-07-19 |
| 作者順序 | 第一作者 |
