| 全部作者 | 黃至堯 |
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| 論文名稱 | Conduction mechanisms and reliability characteristics in MgO resistive switching memory devices |
| 研討會名稱 | 18th International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits |
| 舉行地點 | 韓國Songdo Convensia |
| 會議開始時間 | 2011-07-04 |
| 會議結束時間 | 2011-07-07 |
| 作者順序 | 第四作者 |
